恪纳腾公司商标注册量分析
申请公司商标总量申请公司核准注册量平均核准注册率
12216.67%
恪纳腾公司商标类别数据分析-
09类 电子电器(共12件)
数据分析:目前恪纳腾公司主要注册09类 电子电器商标 (共12件), 主要经营半导体测试设备和用于测试印刷电路板的测试装置产品
恪纳腾公司主营产品数据分析(前十)
1半导体测试设备2用于测试印刷电路板的测试装置3测量器械和仪器4精密测量仪器5计算机硬件6已录制的计算机程序(程序)7计算机软件(已录制)8非医用测试仪9计算机周边设备10处理半导体晶片用计算机软件
恪纳腾公司申请人申请商标
42类 PROSPECT当前进度:
申请日期:2024-01-05商品详细:软件即服务,提供用于模拟集成电路布局中的随机效应的软件,软件即服务,提供用于对集成电路布局中的随机缺陷严重程度进行排名的软件,用于模拟集成电路布局中的随机效应的计算机软件服务,软件即服务,提供用于预测集成电路布局中的随机故障的软件,用于识别半导体晶圆中的随机缺陷的计算机软件(模拟)服务,软件即服务,提供用于识别半导体晶圆中的随机缺陷的软件,用于对集成电路布局中的随机缺陷严重程度进行排名的计算机软件服务,用于预测集成电路布局中的随机故障的计算机软件服务
09类 PROSPECT当前进度:
申请日期:2024-01-05商品详细:可下载的计算机软件,用于模拟集成电路布局中的随机效应,可下载的计算机软件,用于预测集成电路布局中的随机故障,可下载的计算机模拟软件,用于识别半导体晶圆中的随机缺陷,可下载的计算机软件,用于对集成电路布局中的随机缺陷严重程度进行排名
09类 DEFECTWISE当前进度:等待实质审查
申请日期:2022-05-11商品详细:计算机硬件,可下载的计算机应用软件,计算机软件(已录制),可下载的计算机程序,已录制的计算机程序,数据处理设备,半导体存储器,计算机外围设备,与计算机连用的存储器,处理半导体晶片用计算机软件
09类 INSPECTWISE当前进度:
申请日期:2020-08-27商品详细:用于半导体、集成电路和相关微电子产品制造行业的过程控制和产量管理的可下载和已预先录制的计算机软件,可下载的计算机应用软件,已录制的计算机程序,计算机外围设备,数据处理设备,计算机硬件,计算机软件(已录制),计算机程序(可下载软件),半导体存储器,处理半导体晶片用计算机软件,用于检测半导体电子元件、集成电路、微电子产品和晶片中的缺陷和故障的计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件,用于半导体、集成电路、微电子产品和晶片的物理和电气特性测试、检查、表征和预测的计算机硬件以及可下载和预先录制的计算机软件
09类 MACH当前进度:注册公告
申请日期:2020-04-09商品详细:芯片卡,计算机软件(已录制),已录制的计算机操作程序,智能卡(集成电路卡),半导体存储器,监视程序(计算机程序),计算机硬件,可下载的计算机应用软件,计算机监视器
09类 TERABEAM当前进度:注册
申请日期:2019-05-13商品详细:电磁测量探测器,用于测试印刷电路板的测试装置,计算机软件(已录制),计算机程序(可下载软件),半导体测试设备,非医用测试仪,计算机硬件,可下载的计算机应用软件,电路测试仪,微芯片(计算机硬件)
申请日期:2019-01-25商品详细:用于测试印刷电路板的测试装置,测量器械和仪器,精密测量仪器,半导体测试设备
09类 KLA当前进度:等待实质审查
申请日期:2019-01-16商品详细:用于测试印刷电路板的测试装置,测量器械和仪器,精密测量仪器,半导体测试设备
09类 KLA KEEP LOOKING AHEAD当前进度:等待实质审查
申请日期:2018-12-18商品详细:用于测试印刷电路板的测试装置,测量器械和仪器,精密测量仪器,半导体测试设备
09类 MACH当前进度:无效(仅供参考)
申请日期:2018-11-09商品详细:用于向半导体晶片、集成电路和光罩的制造提供有关器件参数的反馈的计算机硬件和软件,用于监测和控制半导体晶片、集成电路和光罩制造过程的计算机硬件和软件,用于测试、检测和表征半导体晶片、集成电路和光罩的物理特性的计算机硬件和软件,计算机操作软件,可下载的计算机应用软件,处理半导体晶片用计算机软件,计算机硬件,计算机软件(已录制),非医用测试仪,测量仪器,电路测试仪,半导体测试设备,用于测试、检测和表征半导体晶片、集成电路和光罩的物理特性的仪器
09类 AXION当前进度:注册
申请日期:2018-10-29商品详细:计算机软件(已录制),测量仪器,处理半导体晶片用计算机软件,半导体测试设备,计算机硬件,可下载的计算机应用软件,电路测试仪
09类 KLA-TENCOR AIM当前进度:注册
申请日期:2012-02-29商品详细:在生产、加工过程中检测半导体的检查设备,在生产、加工过程中检测半导体的测试设备,半导体,计算机周边设备,在生产、加工过程中检测半导体的计算机周边设备,半导体器件,在生产、加工过程中检测半导体的计量设备,已录制的计算机程序(程序),计算机软件(已录制),计算机
09类 KLA-TENCORAIM当前进度:等待实质审查
申请日期:2011-03-30商品详细:计算机硬件,计算机软件(已录制),计算机设备,检测半导体的设备,计算机,已录制的计算机程序(程序),计算机周边设备
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